服務(wù)熱線
86-0769-83110798
本低壓熔斷器觸頭性能測試臺*國家標準IEC60269-1：2009、GB13539.1-2015（低壓熔斷器第1部分：基本要求） 標準中第8.10章節(jié)“觸頭不變壞驗證”的試驗要求，用于模擬熔斷器在嚴酷使用條件下，驗證長期運行中不受擾動的觸頭性能損壞情況。
主要技術(shù)參數(shù)：
1. 設(shè)備輸出電壓：0~690V；
2. 設(shè)備輸出電流：0~5000A；
3. 通電時間：1~9999s；
4. 斷電時間：1~9999s；
5. 試驗樣品：3組；
6. 試驗循環(huán)次數(shù)：1-800次可設(shè)置；
........
設(shè)備滿足標準：
低壓熔斷器觸頭性能測試臺*國家標準IEC60269-1：2009、GB13539.1-2015（低壓熔斷器第1部分：基本要求） 標準中第8.10章節(jié)“觸頭不變壞驗證”的試驗要求。